Das 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X3000 verwendet drei verschiedene Messprinzipien in einem Gerät vereint, je nach Anwendungsfall können ein konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie zum Einsatz kommen. Dies ermöglicht die Durchführung hochpräziser Messungen und Analysen verschiedener Messobjekte mit einer maximalen Auflösung von 0,01 nm. Eine schnelle Erfassung von Messbereichen bis zu 50 × 50 mm, selbst bei handtellergroßen Messobjekten oder solchen mit großen Höhenunterschieden, ist möglich. Dies ermöglicht eine schnelle Analyse sowohl der Gesamtform als auch spezifischer Bereiche. Auch schwierige Materialien, wie beispielsweise mit transparenten und spiegelnden Oberflächen, können schnell, mit hoher Genauigkeit und großflächig gemessen werden. Dieses 3D Laserscanning-Mikroskop kann Messobjekte unabhängig von der Vergrößerung, Oberflächenrauheit und -beschaffenheit (transparenten/spiegelnde Oberflächen) messen.
